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ページID：78683更新日：2021年9月8日

X線分析顕微鏡

透過X線像による電子部品・機械構造部品等の内部状態の観察や、光学顕微鏡画像の観察から分析位置を特定し、蛍光X線分析ができる装置です。
試料室が大容積であるため、大型試料での内部観察や分析が可能です。また、試料室は大気雰囲気なので含水材料や生体試料も分析できます。
金属材料分析、電子部品分析、異物・不具合箇所の分析などにご活用下さい。

本装置は平成25年経済産業省補正予算事業「地域オープンイノベーション促進事業」により導入しました。

機種名

株式会社堀場製作所

XGT-5200TypeSL

仕様

試料室サイズ	W500mm×D500mm×H300mm
X線管球	Rh(50kV、1mA)
X線照射径	φ10μm、φ400μm、φ1.2mm(3段階)
検出元素	Na(11)～U(92)

設備使用料

1,300円／1時間

依頼試験手数料

4,160円／1件

担当

工業材料科