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ページID：115010更新日：2024年4月25日

分析機能付き電子顕微鏡

 

電子線を試料に照射し、試料表面から放出される二次電子、反射電子を検出することで試料表面の凹凸や組成分布の観察を行い、また、観察箇所を付属の元素分析装置によって構成元素の分析を行う装置。

【この装置は令和５年度「地方創生交付金」により導入しました。】

機種名

日本電子株式会社　

JSM-IT510LA

仕様

電子顕微鏡

電子銃	Wフィラメント
加速電圧	0.3～30kV
分解能	高真空モード　3.0nm(30kV)
最大試料寸法	200mm径×75mm高さ
撮影モード	二次電子像、反射電子像
元素分析機能　　検出器	EDS
検出可能元素	Be～U

設備使用料

2,550円/1時間

依頼試験手数料

分析機能付き電子顕微鏡による像観察　　3,990円/１件

分析機能付き電子顕微鏡による元素分析　4,980円/１件

担当

富士技術支援センター
機械電子技術部　素材科

住所：〒403-0004　山梨県富士吉田市下吉田6-16-2

電話：0555(22)2100　Fax：0555(23)6671

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