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ページID:114953更新日:2024年9月26日
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白色干渉縞を用いて、表面粗さや微少形状を、高精度に非接触測定する装置。
ナノレベルの試料表面形状を3次元的に測定・表示することが可能。
半導体や光学部品、金型など、精度が求められる製品の品質評価に活用できる。
【この装置は令和5年度「地方創生交付金」により導入しました。】
アメテック株式会社ザイゴ事業部
Nexview NX2
測定方式 | 直立走査型低コヒーレンス干渉法 |
光源 | 高輝度白色LED |
スキャン範囲 |
ピエゾンスキャン150μm モータースキャン20mm RMS再現性:0.005nm 表面形状再現性:0.06nm |
電動XYステージ | 200mm×200mmストローク |
カメラ画素数 | 1,600×1,200、1,000×1,000画素 |
光学式ズーム | 3ポジション電動タレット式 |
対物レンズ | 1x、10x、20x、50x |
8,690円/1時間
5,540円/1件
甲府技術支援センター
機械技術部